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德國(guó)菲希爾FISCHER
英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國(guó)API
杭州思看
美國(guó)哈希代理
意大利哈納代理
德國(guó)馬爾Mahr
德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
德國(guó)Qnix尼克斯
德國(guó)森薩帕特Sensopart
德國(guó)BYK
德國(guó)EPK
美國(guó)狄夫斯高 Defelsko
美國(guó)Fluke 福祿克
美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)
美國(guó)SDI
美國(guó)FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國(guó)Fluke福祿克
美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
北京時(shí)代 TIME
英國(guó)易高Elcometer
英國(guó)Renishaw雷尼紹
瑞士博勢(shì) Proceq
表面處理層無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
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fischer dualscope mp0表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x， DUALSCOPE MP0涂鍍層測(cè)厚儀基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測(cè)量
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德國(guó)菲希爾FISCHER公司生產(chǎn)的經(jīng)得起考驗(yàn)的feritscope fmp30菲希爾鐵素體檢測(cè)儀適合于需要一款帶全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，輸出和打印功能的使用者。FERITSCOPE FMP30鐵素體測(cè)試儀能存儲(chǔ)多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式中4,000個(gè)數(shù)據(jù)組中的20,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。
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菲希爾dualscope mp0測(cè)厚儀現(xiàn)貨篤摯基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測(cè)量。
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篤摯現(xiàn)貨供應(yīng)fischer校準(zhǔn)片德國(guó)菲希爾校準(zhǔn)膜片介紹： 膜片規(guī)格：MP0膜厚儀配的是75μm左右的膜片，F(xiàn)MP10系列配的是24μm和250μm。FMP20配的是9μm，125μm，24μm和250μm。外有其他規(guī)格可選：9μm，11μm，24μm，35μm，50μm，75μm，125μm，250μm，350μm。
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COULOSCOPECMS2庫(kù)倫法測(cè)厚儀現(xiàn)貨嘗鮮價(jià)CMS2系列儀器通過(guò)電解去鍍的方法測(cè)量鍍層的厚度。庫(kù)侖法也可用于準(zhǔn)確地確定任何類型基材上的多層涂層的厚度。CMS2 STEP版本允許對(duì)單個(gè)鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試，以檢測(cè)電位差（例如，多層鎳鍍層的質(zhì)量控制）。
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xan500fischer德國(guó)* 手持式、臺(tái)式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。
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fischer鍍層測(cè)厚儀RMP30-S現(xiàn)貨供應(yīng) 該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法，十分適合測(cè)量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢(shì)是利用電阻法測(cè)量不會(huì)受到其他層的影響，因此能夠精確測(cè)定上層面銅層的厚度。
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fischer測(cè)厚儀mp0活動(dòng)特惠小巧、方便且穩(wěn)固 – MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡(jiǎn)便、快速且無(wú)損地測(cè)量涂層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別堅(jiān)固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現(xiàn)場(chǎng)可靠測(cè)量的理想設(shè)備。
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便攜式x射線測(cè)厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經(jīng)考驗(yàn)的WinFTM軟件。基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析，還能測(cè)量鍍層厚度，并可實(shí)現(xiàn)無(wú)校準(zhǔn)（不需標(biāo)準(zhǔn)片）測(cè)量。
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鐵素體儀fmp30 德國(guó)菲希爾FISCHER鐵素體含量檢測(cè)儀FMP30簡(jiǎn)單介紹鐵素體含量測(cè)定儀的詳細(xì)介紹FMP30鐵素體含量測(cè)定儀|FMP30鐵素體測(cè)量?jī)xFISCHER鐵素體檢測(cè)儀儀器小巧、便攜，是新一代的產(chǎn)品，更加美觀，實(shí)用。
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涂層測(cè)厚儀現(xiàn)貨供應(yīng)新款上市 德國(guó)Fischer FMP10涂鍍層測(cè)厚儀，德國(guó)Fischer FMP10 手持式鍍層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀是一款標(biāo)準(zhǔn)手持綠油厚度測(cè)量?jī)x，用于對(duì)幾乎所有金屬上的涂層進(jìn)行非破壞性厚度測(cè)量，尤其是PCB版上面的綠油測(cè)厚儀，非常精準(zhǔn)，是華為，富士康等大型的工廠的綠油厚度檢測(cè)的鍍層測(cè)厚儀。
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篤摯現(xiàn)貨優(yōu)質(zhì)fischermp0涂層測(cè)厚儀膜厚儀由德國(guó)生產(chǎn)，該MP0測(cè)厚儀集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能，可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。Fischer 的進(jìn)口測(cè)厚儀產(chǎn)品線涵蓋了測(cè)量和分析儀器，廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。德國(guó)FISCHER菲希爾MP0涂層測(cè)厚儀膜厚儀測(cè)量時(shí)使用合適的測(cè)量方法，可以獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果以及較佳的重復(fù)精度。
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測(cè)厚儀探頭Fischer FD10 來(lái)自德國(guó)Fischer雙功能測(cè)厚儀探頭FD10，多適用于主機(jī)DualScope FMP20和DualScope FMP40，是標(biāo)準(zhǔn)兩用探頭，適用于磁感應(yīng)以及渦流法測(cè)量測(cè)厚儀上，能夠自動(dòng)識(shí)別測(cè)量方式，顯示儀器。
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德國(guó)菲希爾fischer xdl-230 鍍層膜厚測(cè)試儀 德國(guó)菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
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fischer FMP30 鐵素體含量檢測(cè)儀 篤摯代理由fischer公司生產(chǎn)，測(cè)量精度高，可以準(zhǔn)確的測(cè)量奧氏體鋼以及合金鋼中鐵素體的含量，確保工件運(yùn)行安全可靠不發(fā)生事故。儀器小巧玲瓏簡(jiǎn)單便攜易于上手。
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德國(guó)fischer DualScope FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀能夠或許自動(dòng)識(shí)別底材資料而且集成為了兩種丈量辦法，使這個(gè)系列的儀器能夠丈量鋼材和鐵材亦或長(zhǎng)短鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。因?yàn)榫奂藘煞N丈量辦法，這個(gè)系列的儀器還能夠或許在一次丈量過(guò)程當(dāng)中同時(shí)測(cè)得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），而且分離表現(xiàn)進(jìn)去。
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進(jìn)口鐵素體檢測(cè)儀設(shè)備特性FISCHER fmp30 無(wú)損測(cè)量奧氏體鋼和雙相鋼內(nèi)的鐵素體含量，只需一次校準(zhǔn)就能滿足常用的測(cè)量范圍0.1-90FN。。儀器能識(shí)別所有的磁性部件，也就是說(shuō)，除了delta鐵素體，還能識(shí)別其轉(zhuǎn)化形式馬氏體。
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德國(guó)Fischer FMP30系列多個(gè)應(yīng)用程序測(cè)厚儀 DELTASCOPE® 用于鋼和鐵上的涂鍍層 ISOSCOPE® 用于鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層 DUALSCOPE® 具有自動(dòng)底材識(shí)別并兼具兩種測(cè)量方法（磁感應(yīng)和渦流）；DUALSCOPE 可測(cè)量鐵/鋼或非鐵磁性金屬以及非導(dǎo)電底材上的多種涂鍍層 非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級(jí)涂鍍層 使用非鐵磁性金屬制成的厚涂層或鋼上的保護(hù)涂鍍層
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測(cè)鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法。
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菲希爾測(cè)厚儀